텍트로닉스, 100G 테스트 요구에 대응하는 28.6Gbp/s BERTScope 출시

28.6Gb/s의 표준 적합성 테스트 완벽 지원

 

오실로스코프의 선두주자인 텍트로닉스(Tektronics, Inc., 지사장 김해랑, http://www1.tek.com)는 최근 늘어나는 100G 테스트 요구에 대응해 BERTScope 비트 에러율 테스터 시리즈를 확장했다고 발표했다

 

 

 

 

BERTScope는 업계 최고 수준인 300pSec 미만의 고유 지터 노이즈 플로어로 계속 증가되는 텍트로닉스의 광학 통신 테스트 제품군에 극히 정밀한 BER 테스트 및 근본 원인 PHY 계층 분석 기능을 제공한다.

텍트로닉스 고성능 오실로스코프 담당자는 "이번에 출시된 BSA286C BERTScope는 100G 테스트 조건을 만족하고자 노력하고 있는 설계 실험실에 턴키방식의 고속 통신 테스트 프레임워크를 제공한다"면서, “심층적인 수준의 디버깅 가시성을 제공함해 설계자들이 특정 디바이스가 초기 테스트에 실패한 원인을 파악하도록 지원하는 유일한 솔루션"이라고 강조했다.

디버깅 애플리케이션의 경우, 엔지니어들은 BSA286C를 사용해 지터를 무작위 성분과 확정적 성분으로 정확하게 분해할 수 있는 추가 기능으로 다양한 신호에 대해 확실한 지터 측정을 수행할 수 있다. 속도가 증가함에 따라 crosstalk 및 지터와 관련된 신호 노이즈의 중대한 원인이 됐다.

텍트로닉스 BERTScope와 고성능 오실로스코프에는 지터 분해 모델이 적용돼 있어 BUJ(Bounded Uncorrelated Jitter)를 분리, crosstalk와 관련된 잠재적인 설계 문제를 신속하게 파악할 수 있다.

100G 테스트에서는 28.6Gb/s BER 스트레스 리시버 테스트가 표준 적합성 및 성능을 보장하는 중요한 조건이다. 이 데이터 전송률은 100GBASE-LR 및 ER-4의 25.78125Gb/s 데이터 전송률과 함께 필요한 마진 검증 및 FEC(순방향 오류 정정)에 적합한 여유를 제공한다.

BERTScope에서 제공하는 고속 패턴 생성과 오류 검출 기능의 조합을 활용하면 디버그 근본 원인 분석과 관련된 복잡한 측정 시나리오에서 빠르게 해답을 얻을 수 있다.

텍트로닉스는 모든 범위의 100G 설계 과제에 대응해 PHY TX, RX, 광학 변조에 대해 계측기 기능과 지식을 제공한다. TX 아이 다이어그램 분석용 텍트로닉스 DSA8300 디지털 샘플링 오실로스코프에 복잡한 변조 테스트용 OM4000 가간섭 광파 신호 분석기와 BSA286C BERTScope가 추가됨에 따라 100G 표준 검증 및 디버그에 필요한 포괄적인 PHY 테스트 세트가 제공되게 됐다.

이번 제품 출시로 텍트로닉스는 오류 검출, 패턴 생성, 클럭 복구를 포함해 최고 28.6Gb/s의 표준 적합성 테스트를 완벽하게 지원하는 최초의 테스트 장비 제조사가 됐다고 텍트로닉스 측은 전했다.